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本儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
新儀器 AK-30涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品說(shuō)明 本儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
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